Ұшпалылық салдарынан пайда болған шығындар сынама құрамының өзгеруіне әкеліп соқтыра алатындықтан, сынамаларды жарқылдың температурасынан 28 °С (50 °F) шегіндегі температураға дейін қыздыруға болмайды.
Никогда не следует разогревать пробы до температуры в пределах 28 °С (50 °F) от их температуры вспышки (см. Методы испытаний D93), поскольку потери в результате летучести могут привести к изменению состава пробы.
Ұшпалылық салдарынан пайда болған шығындар сынама құрамының өзгеруіне әкеліп соқтыра алатындықтан, сынамаларды жарқылдың температурасынан 28 °С (50 °F) шегіндегі температураға дейін қыздыруға болмайды.
Никогда не следует разогревать пробы до температуры в пределах 28 °С (50 °F) от их температуры вспышки (см. Методы испытаний D93), поскольку потери в результате летучести могут привести к изменению состава пробы.
Ұшпалылық салдарынан пайда болған шығындар сынама құрамының өзгеруіне әкеліп соқтыра алатындықтан, сынамаларды жарқылдың температурасынан 28 °С (50 °F) шегіндегі температураға дейін қыздыруға болмайды.
Никогда не следует разогревать пробы до температуры в пределах 28 °С (50 °F) от их температуры вспышки (см. Методы испытаний D93), поскольку потери в результате летучести могут привести к изменению состава пробы.
Осы уақыт шығын коэффициентіне түзетіліп, осы температура кезінде сынама тұтқырлығы ретінде тіркеледі.
Это время корректируется на коэффициент расхода и регистрируется как вязкость пробы при данной температуре.
Осы уақыт шығын коэффициентіне түзетіліп, осы температура кезінде сынама тұтқырлығы ретінде тіркеледі.
Это время корректируется на коэффициент расхода и регистрируется как вязкость пробы при данной температуре.
Осы уақыт шығын коэффициентіне түзетіліп, осы температура кезінде сынама тұтқырлығы ретінде тіркеледі.
Это время корректируется на коэффициент расхода и регистрируется как вязкость пробы при данной температуре.